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05月 25

蘋果承認iPhone6/6Plus設(shè)計有缺陷

編輯:匿名 來源:快科技
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蘋果就是這樣,出了問題都表現(xiàn)很霸氣,現(xiàn)在他們公開承認,iPhone66Plus存在設(shè)計缺陷。

大家應(yīng)該還記得,之前iPhone6系列出現(xiàn)的手機屏幕頂端出現(xiàn)閃爍的灰色橫條,觸摸屏沒法使用的情況吧,經(jīng)過專業(yè)拆解網(wǎng)站iFixit拆解后發(fā)現(xiàn),設(shè)計缺陷導(dǎo)致會出現(xiàn)Touch Disease的問題。

具體來說就是,在iPhone6/6Plus中,Touch IC芯片是通過一系列很小的焊錫球連接到邏輯板的,手機在使用過程中稍微彎曲,這些焊錫球可能就會出現(xiàn)裂縫,連接不到邏輯板,造成此“Touch Disease”問題,再簡單點來說就是,iPhone6/6Plus機身稍微彎曲,手機就罷工。

蘋果對此回應(yīng)稱,底部填充技術(shù)被用來防止芯片的性能受到手機彎曲等外界因素影響,所以這不是什么問題,但有趣的是,他們還是在2016年5月通過改進生產(chǎn)工藝解決了此Touch Disease問題。

蘋果iPhone6

蘋果手機
網(wǎng)絡(luò)制式 GSM & WCDMA 待機模式 單卡多模
系統(tǒng)界面 iPhone8.0 主屏參數(shù) 4.7寸1600萬色
主屏分辨率 750x1334 CPU 雙核 1.4GHz
網(wǎng)游 游戲 軟件 主題 壁紙 鈴聲

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